Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем.
Содержание:
1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
2.1. Порядок приоритетности нормативно-технических документов (далее - НТД)
2.2. Используемые документы
2.3. Единицы физических величин, термины и обозначения
2.4. Предпочтительные значения
2.5. Маркировка
2.6. Категории качества сертифицированных приборов
2.7. Отбраковочные испытания
3. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ПРИБОРОВ
3.1. Требования к испытаниям на утверждение соответствия приборов ТУ
3.2. Закрытая информация промышленного значения
3.3. Комплектование контролируемых партий
3.4. Конструктивно подобные приборы
3.5. Утверждение соответствия приборов ТУ
3.6. Контроль соответствия заданному уровню качества
3.7. Порядок проведения статистического выборочного контроля
3.8. Испытания на срок службы при заданном значении LTPD
3.9. Испытания на срок службы при заданной интенсивности отказов
4. ИСПЫТАНИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ
4.1. Нормальные атмосферные условия для измерения электрических параметров
4.2. Проверка физического состояния
4.3. Измерения электрических параметров
4.4. Испытания на воздействие внешних факторов
ПРИЛОЖЕНИЕ А ПЛАНЫ ВЫБОРОЧНОГО КОНТРОЛЯ ПО ДОПУСТИМОМУ ПРОЦЕНТУ ДЕФЕКТНЫХ ИЗДЕЛИЙ В ПАРТИИ (LTPD)
ПРИЛОЖЕНИЕ В ПРОВЕРЯЕМЫЕ РАЗМЕРЫ
ПРИЛОЖЕНИЕ С НАПРАВЛЕНИЯ ПРИЛОЖЕНИЯ СИЛ ПРИ МЕХАНИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЯХ
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
Ссылки на другие документы:
ГОСТ 28578-90 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания
